LT-AC/DC 臺式霍爾效應測量系統

霍爾效應測量系統 （HEMS）

HEMS 是一個集成的硬件和軟件系統，旨在測量和分析樣品的電子特性。

該系統設計提供了在高達 2.5 特斯拉的磁場下進行測量的可能性，結合低溫恒溫器，磁場高達 16T.

同時，該系統提供了使用 2 個不同溫度測量頭進行 3K-1273K 范圍內測量的機會，同時它提供了與探頭系統相關的樣品的輕松組裝，可以在 3 個不同的軸上移動。

NMI – 霍爾效應測量系統 （HEMS） 設備對半導體、有機導體和金屬氧化物材料進行電氣表征。這些用納米技術方法開發的材料用于芯片技術的發展、太陽能電池的發展、材料科學的發展、空間技術、國防工業的發展。

適用對象

適用于基于 GaAS 的材料（高電子遷移率晶體管、偽高電子遷移率晶體管、異質結雙極晶體管、場效應晶體管、金屬半導體場效應晶體管）、磷化銦、砷化銦、氮化鎵、氮化鋁、硅、鍺、碲鎘汞、氧化鋅、硅鍺、錳砷化鎵、氧化鋅、紅外應用（發光二極管、激光二極管、探測器）、金屬氧化物、有機和無機導體、鐵氧體等。

測量內容包括

• 遷移率測量

• 載流子測量

• 電阻率測量

• 范德堡測量

• 霍爾 bar 測量

極帽

• 可調節極帽

• 25mm 端面直徑

• 極間距可在 0 - 130mm 連續調節

• 可選更大直徑，50mm、75mm

電磁鐵

• 25mm 極面、10mm 間距時，±2.5T（可配置）

• ±35V，±70A 線圈

• 25mm 極間距時，磁場＞±1T

• 大極間距下磁場強度高

• 適用于 3 - 300K 閉循環低溫恒溫器集成

• 串聯線圈電阻：0.5Ω（20℃）

• 水冷

制冷機

• 閉循環水冷

• 超溫時與線圈互鎖

NanoMagnetics 高斯計

• 利用集成高斯計進行磁場控制掃描

• 用霍爾探頭校準磁場

• 高靈敏度磁場測量

• 軟件控制所有參數

樣品架

彈簧加載設計選項：

• 范德堡測量設計

• 四、六或八接觸霍爾 bar 測量設計

• 用彈簧針連接，便于樣品安裝

• 標準 5mm×5mm 樣品尺寸（可選更大尺寸）

• 多樣品安裝

樣品焊接 / 鍵合設計選項：

• 范德堡測量設計

• 四或六接觸霍爾 bar 測量設計

• 八接觸霍爾 bar 測量設計（可選）

• 5mm×5mm 樣品尺寸（可選更大尺寸）

• 多樣品（2 個）安裝

控制器與軟件

• 是德科技（Keithley Instruments）pA/μV 靈敏度的*數字源表

• 用強大軟件進行層遷移率分析

• 基于 Labview 的全自動軟件

• 帶 USB / 以太網接口的磁鐵與系統控制

• 3 - 1300K 變溫控制選項，用于低溫 - 高溫測量

• 用高斯計進行磁場控制測量

• 范德堡和霍爾 bar 測量的可視化便捷設置

• 軟件免費更新

交流霍爾效應測量系統（可選）

• 頻率：0.1 赫茲

• 最大磁感應強度：0.65 特斯拉

• 遷移率：10?3 平方厘米每伏秒

• 低溫分辨率：±0.2 開爾文

• 高溫分辨率：±1 開爾文